【摘要】为了保证实验的准确性，针对数宁电路实验中IC损坏要进行验证测试的问题，设计了简易数宁IC逻辑功能测试仪，着重设计了测试仪接口电路中最关键部分的测试座、芯片的驱动转换电路。
【关键词】
《科技创新与应用》 2015-11-04
《科技创新与应用》 2015-11-04
《科技创新与应用》 2015-11-04
《文学教育（中）》 2015-11-04
《新农业》 2015-11-05
《宁波职业技术学院学报》 2015-11-05
《宁波职业技术学院学报》 2015-11-06
《时代经贸》 2015-11-05
010-56259535
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