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一类偏微分系统谱的上界估计

更新时间:2015-11-11

【摘要】考虑一类偏微分系统谱(又称特征值)的上界估计,利用分部积分、Rayleigh定理和不等式估计等方法,获得了用前n个特征值来估计第rr,+l个特征值的上界不等式,其估计系数与区域的几何度无关,其结果在物理和力学等领域中应用广泛。

【关键词】

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